发生系统错误,系统已记录。 单双晶超声波测厚仪U750_测试设备_1西安杉瑞机电科技有限责任公司
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单双晶超声波测厚仪U750

产品参数 >>

采用超声波测量原理,适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播,并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。

此仪器可对板材和加工零件做准确测量,另一重要方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

● 采用“杂波飞渡技术”,一方面可以实现超薄件的测量,最小厚度(钢)可达0.15mm;另一方面可以实现高精度测厚,分辩率可达0.001mm;

● 增加双晶5MHz、7MHz探头,实现0.15-300mm的大量程高精度测量。

● 两种测量模式底波-回波模式满足常规厚工件测量

回波-回波模式满足薄工件测量精度高)

● 可穿越表面涂层进行测量,表面涂层小于500um;

● 探头放在测厚仪试块上按键自动调零;

● 有LED背光显示,方便在光线昏暗环境中使用;

● 具有声速校准(反测声速)或单点校准功能;

● 可以进行报警设置和差值模式设置;

● 公英制转换;毫米和英寸可切换单位

● 可存储5种不同材料的声速

● 可选配4mm单晶探头、双晶(4mm探头、2MHz高穿透探头、7MHz小管径探头)


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